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Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
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Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
Buchdetails
- Autor
- Hnatek, Eugene R.
- Verlag
- Springer US
- ISBN
- 9780442006433
- Erscheinungsdatum
- 31.08.1993
- Seitenzahl
- 194
- Einband
- Gebunden
- Sprache
- Englisch
- Maße
- 241 × 160 × 16 mm
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